IEEE P1149.7/D7, October 2021 Проект стандарта IEEE для порта тестового доступа с уменьшенным количеством контактов и расширенной функциональностью и архитектуры граничного сканирования
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
сфера применения
В этом стандарте описаны схемы, которые могут быть добавлены в интегральную схему для обеспечения доступа к встроенным портам доступа к тестированию (TAP), указанным в стандарте IEEE Std 1149.1. Добавление функций для поддержки тестирования и отладки приложений. Он определяет шесть классов тестирования IEEE 1149.7. Порты доступа (TAP....