20/30406234 DC
БС МЭК 63275-2 Ред.1.0. Полупроводниковые приборы. Метод испытаний на надежность дискретных металлооксидных полупроводниковых полевых транзисторов на основе карбида кремния. Часть 2. Метод испытания биполярной деградации при работе внутреннего диода

Стандартный №

20/30406234 DC

Дата публикации

2020

Разместил

British Standards Institution (BSI)

Последняя версия

20/30406234 DC

20/30406234 DC История

• 0000 20/30406234 DC