IEC 60749-28:2022
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 28. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель заряженного устройства (CDM) — уровень устройства.
- Стандартный №
- IEC 60749-28:2022
- Дата публикации
- 2022
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Последняя версия
- IEC 60749-28:2022
IEC 60749-28:2022 История
- 0000 IEC 60749-28:2022 RLV
- 2017 IEC 60749-28:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 28. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель заряженного устройства (CDM) — уровень устройства.
