KS C IEC 60749-21-2020
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 21. Паяемость.
Стартовая страница
KS C IEC 60749-21-2020
Стандартный №
KS C IEC 60749-21-2020
Дата публикации
2020
Разместил
KR-KS
Последняя версия
KS C IEC 60749-21-2020
KS C IEC 60749-21-2020 История
2020
KS C IEC 60749-21:2020
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 21. Паяемость.
2005
KS C IEC 60749-21:2005
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 21. Паяемость.
© 2023. Все права защищены.