IEEE P1838_D3.00, September 2019 Утвержденный IEEE проект стандарта архитектуры тестового доступа для трехмерных составных интегральных схем - Стандарты и спецификации PDF

IEEE P1838_D3.00, September 2019
Утвержденный IEEE проект стандарта архитектуры тестового доступа для трехмерных составных интегральных схем

Стандартный №
IEEE P1838_D3.00, September 2019
Дата публикации
2019
Разместил
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
сфера применения
IEEE Std 1838 — это стандарт, ориентированный на кристалл; он применяется к кристаллу, который должен быть частью стека из нескольких кристаллов. Этот стандарт определяет функции уровня кристалла, которые, когда совместимые кристаллы объединяются в стопку, образуют стек. многоуровневая архитектура, обеспечивающая транспортировку сигналов управления и данных для тестирования (1) внутрикристальных схем и (2) межкристальных межсоединений как в (a) предварительном суммировании...  



© 2023. Все права защищены.