TIA-455-126-2007
Спектральная характеристика светодиодов

Стандартный №

TIA-455-126-2007

Дата публикации

2007

Разместил

TIA - Telecommunications Industry Association

сфера применения

"Введение Цель. Целью данной процедуры испытаний является измерение центральной длины волны @ пиковой длины волны @ и ширины спектра (RMS и FWHM) полупроводникового светоизлучающего диода (СИД) с использованием дисперсионного спектрофотометрического метода (то есть @ с использованием вращающегося дифракционная решетка) или другие подходящие методы. ПРИМЕЧАНИЕ: RMS – это среднеквадратичное значение, а FWHM – это половина максимума полной ширины (на 3 дБ вниз). Точность и прецизионность Неопределенность процедуры определяется погрешностью оптического анализатора спектра и количество выбранных точек данных.Точность метода определяется точностью оптического анализатора спектра и используемой настройкой разрешения.Точность этой процедуры может быть повышена за счет усреднения нескольких разверток.Опасности.Эта процедура включает измерения находящихся под напряжением оптических источников. Соблюдайте осторожность, чтобы избежать возможного повреждения глаз. Не смотрите на конец волокна под напряжением напрямую или с помощью увеличительного устройства. Применение Эта процедура применима ко всем светодиодам».