IPC TM-650 2.3.44-2016 Определение толщины и содержания фосфора в слоях химического никеля (ЭН) методом рентгенофлуоресцентной (РФА) спектрометрии - Стандарты и спецификации PDF

IPC TM-650 2.3.44-2016
Определение толщины и содержания фосфора в слоях химического никеля (ЭН) методом рентгенофлуоресцентной (РФА) спектрометрии

Стандартный №
IPC TM-650 2.3.44-2016
Дата публикации
2016
Разместил
IPC - Association Connecting Electronics Industries
сфера применения
Целью данного метода испытаний является измерение толщины и концентрации фосфора (P) химически (химическим) способом осажденных никелевых (Ni) покрытий с помощью (энергодисперсионного) рентгенофлуоресцентного (XRF) анализа. Измерение является неразрушающим и бесконтактным@ и могут выполняться либо в атмосфере окружающей среды, либо в вакууме.Измерения должны проводиться на определенном элементе (эквивалентном типичной пластине SMT) размером 1,5 x 1,5 мм [0,060 x 0,060 дюйма] или эквивалентной площади @ с использованием коллиматора диаметром 0,6 мм. Это соответствует размеру пятна измерения (области анализа) диаметром 1 мм. Этот метод испытаний предназначен в первую очередь для анализа отказов@ аттестации процесса и аудита процесса. Он не предназначен для ежедневного контроля производства@ из-за сложности и стоимости необходимое оборудование.



© 2023. Все права защищены.