BS IEC 60747-10:1991(2011) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Полупроводниковые приборы. Общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем. - Стандарты и спецификации PDF

BS IEC 60747-10:1991(2011)
Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Полупроводниковые приборы. Общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем.

Стандартный №
BS IEC 60747-10:1991(2011)
Дата публикации
1970
Разместил
/
Последняя версия
BS IEC 60747-10:1991(2011)

BS IEC 60747-10:1991(2011) История

  • 0000 BS IEC 60747-10:1991(2011)
  • 1998 BS 9450:1998 Спецификация на интегральные электронные схемы и микросборки оцененного качества (процедуры подтверждения работоспособности). Общие данные и методы испытаний
  • 1991 BS IEC 60747-10:1991 Полупроводниковые приборы. Общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем
  • 1975 BS 9450:1975 Спецификация на интегральные электронные схемы и микросборки оцененного качества (процедуры подтверждения работоспособности): общие данные и методы испытаний



© 2023. Все права защищены.