BS EN 62374-1:2010(2011)
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев.

Стандартный №

BS EN 62374-1:2010(2011)

Дата публикации

1970

Разместил

/

Последняя версия

BS EN 62374-1:2010(2011)

BS EN 62374-1:2010(2011) История

• 0000 BS EN 62374-1:2010(2011)
• 2010 BS EN 62374-1:2010 Полупроводниковые приборы. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев