IEC 60811-202:2012+AMD1:2017 CSV
Кабели электрические и оптоволоконные. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 202. Общие испытания. Измерение толщины неметаллической оболочки.

Стандартный №

IEC 60811-202:2012+AMD1:2017 CSV

Дата публикации

2017

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен 2023-08

быть заменен

IEC 60811-202/AMD2:2023 PRV

Последняя версия

IEC 60811-202/AMD2:2023 PRV

IEC 60811-202:2012+AMD1:2017 CSV История

• 0000 IEC 60811-202/AMD2:2023 PRV
• 2017 IEC 60811-202:2012/AMD1:2017 Кабели электрические и волоконно-оптические. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 202. Общие испытания. Измерение толщины неметаллической оболочки; Поправка 1
• 2017 IEC 60811-202:2017 Кабели электрические и оптоволоконные. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 202. Общие испытания. Измерение толщины неметаллической оболочки.
• 2012 IEC 60811-202:2012 Кабели электрические и оптоволоконные. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 202. Общие испытания. Измерение толщины неметаллической оболочки.