BS EN 60749-3:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Внешний визуальный осмотр - Стандарты и спецификации PDF

BS EN 60749-3:2017
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Внешний визуальный осмотр

Стандартный №
BS EN 60749-3:2017
Дата публикации
2017
Разместил
British Standards Institution (BSI)
Последняя версия
BS EN 60749-3:2017
сфера применения
Что такое BS EN IEC 60749-3 - Внешний визуальный осмотр полупроводниковых приборов? BS EN IEC 60749 — это международный стандарт, охватывающий внешний визуальный осмотр полупроводниковых устройств, который облегчает тестирование, классификацию и применимость полупроводниковых устройств. Целью BS EN IEC 60749 является проверка того, что материалы, конструкция, конструкция, маркировка и качество изготовления полупроводникового устройства соответствуют применимому документу на закупку. В BS EN IEC 60749 внешний визуальный осмотр является неразрушающим испытанием и применим для всех типов упаковки. Тест полезен для вопросов...

BS EN 60749-3:2017 История

  • 2018 BS EN IEC 60749-12:2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Вибрация, переменная частота
  • 2002 BS EN 60749-12:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Вибрация переменной частоты.
  • 1999 BS EN 60749:1999 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний
  • 0000 BS 6493-3:1986



© 2023. Все права защищены.