IEC 62528:2007 (E)
МЭК 62528 Ред. 1 (IEEE Std 1500(TM)-2005): Стандартный метод тестирования для встроенных интегральных схем на базе ядра.
Стартовая страница
IEC 62528:2007 (E)
Стандартный №
IEC 62528:2007 (E)
Дата публикации
2007
Разместил
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
© 2023. Все права защищены.