PAS 62162-2000 Метод испытания модели заряженного устройства, индуцированного полем, для определения порогов стойкости микроэлектронных компонентов к электростатическому разряду (редакция 1.0) - Стандарты и спецификации PDF

PAS 62162-2000
Метод испытания модели заряженного устройства, индуцированного полем, для определения порогов стойкости микроэлектронных компонентов к электростатическому разряду (редакция 1.0)

Стандартный №
PAS 62162-2000
Дата публикации
2000
Разместил
IEC - International Electrotechnical Commission


© 2023. Все права защищены.